1. Определение состава бинарных халькогенидных стекол методом рентгенофлуоресцентного анализа / Г. А. Бордовский, А. В. Марченко, П. П. Серегин, Н. Н. Смирнова, Е. И. Теруков // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44. - С. 26-29.
2. Рентгенофлуоресцентный анализ халькогенидных стекол As-Ge-Se / Г. А. Бордовский, П. В. Гладких, И. В. Еремин, А. В. Марченко, П. П. Серегин, Н. Н. Смирнова, Е. И. Теруков // Письма в Журнал технической физики. - 2011. - Т. 37. - С. 15-20.
3. Определение состава многокомпонентных халькогенидных полупроводников методом рентгенофлюоресцентного анализа / Г. А. Бордовский, А. В. Марченко, А. В. Николаева, П. П. Серегин, Е. И. Теруков // Физика и техника полупроводников. - 2014. - Т. 48. - С. 272-277.
4. Рентгенофлуоресцентный анализ стекол Ge1-xSex, As| j.Sej. и Ge1-x-yAs^Sex с использованием электронного возбуждения / Е. И. Теруков, П. П. Серегин, А. В. Марченко, Д. В. Жилина, К. У. Бобохужаев // Физика и техника полупроводников. - 2015. Т. 49. - С. 1397-1401.
5. Opredelenie sostava binarnykh khalkogenidnykh stekol metodom rentgenofluorescentnogo analiza / G. A. Bordovsky, A. V. Marchenko, P P Seregin, N. N. Smirnova, E. I. Terukov // Fizika I tekhnika polupro- vodnikov. - 2010. -T. 44. - S. 26-29.
6. Rentgenofluorescentnei analiz khalkogenidnykh stekol As-Ge-Se / G. A. Bordovsky, P. V. Gladkikh, I. V Eremin, A. V. Marchenko, P P Seregin, N. N. Smirnova, E. I. Terukov // Pisma v Zhurnal tekhnicheskoi fiziki. - 2011. - T. 37 - S. 15-20.
7. Opredelenie sostava mnogokomponentnykh khalkogenidnykh poluprovodnikov metodom rentgenofluorescent- nogo analiza / G. A. Bordovsky, A. V. Marchenko, A. V Nikolaeva, P P Seregin, E. I. Terukov // Fizika i tekh- nika poluprovodnikov. - 2014. - T. 48. - S. 272-277.
8. Rentgenofluorescentnei analiz stekol Ge| j.Sej, As1-xSex u Ge1-x-yAs^Sex s ispolzovaniem elektronnogo vozbuzh- deniy / E. I. Terukov, P P Seregin, A. V. Marchenko, D. V. Zhilina, K. U. Bobokhuzhaev. // Fizika i tekhnika poluprovodnikov. - 2015. - T. 49. - S. 1397-1401.
