Богданова Т., Колобов А. В., Кононов А. Применение метода EXAFS-спектроскопии для исследования фазовых переходов в MoTe. 2021;:439-446.
1. Ma R., Zhang H., Yoo Y., et al. MoTe2 Lateral Homojunction Field-Effect Transistors Fabricated using Flux-Controlled Phase Engineering. ACS Nano. 2019. 13 (7). 8035-8046. DOI: 10.1021/acsnano.9b02785.
2. Puotinen D., Newnham R. E., The crystal structure of MoTe2. Acta Crystallographica. 1961. 14 (6). 691- 692.
3. Li Y., Duerloo K., Wauson K., et al. Structural semiconductor-to-semimetal phase transition in two-dimensional materials induced by electrostatic gating. Nature Communications. 2016. 7 (10671). 1 - 8. DOI: 10.1038/ncomms10671.
4. Song S., Keum D. H., Cho S., et al. Room temperature semiconductor - metal transition of MoTe2 thin films engineered by strain. Nano Lett. 2016. 16. 188 - 193.
5. Wang Y, Xiao J, Zhu H, et al. Structural phase transition in monolayer MoTe2 driven by electrostatic doping. Nature. 2017. 550 (7677). 487-491. DOI:10.1038/nature24043.
6. Коломиец Б. Т., Лебедев Э. А. Вольтамперная характеристика точечного контакта со стеклообразными полупроводниками. Радиотехника и электроника. 1963. 8 (10). 2097 - 2098.
7. Ovshinsky S. R. Reversible electrical switching phenomena in disordered structures. Physical Review Letters. 1968. 21 (20). 1450 - 1453.
8. Богословский Н. А., Цэндин К. Д. Физика эффектов переключения и памяти в халькогенидных стеклообразных полупроводниках. Физика и техника полупроводников. 2012. 4 (5). 577 - 608.
9. Ravel B., Newville M. ATHENA, ARTEMIS, HEPHAESTUS: data analysis for X-ray absorption spectroscopy using IFEFFIT. Journal of Synchrotron Radiation. 2005. 12 (5). 537-541. DOI:10.1107/S0909049505012719.
10. Jain A., Ong S.P., Hautier G., et al. The Materials Project: A materials genome approach to accelerating materials innovation. APL Materials, 2013, 1(1), 011002. DOI:10.1063/1.4812323.
11. Аксенов В. Л., Тютюнников С. И., Кузьмин А. Ю. EXAFS - спектроскопия на пучках синхротронного излучения. Физика элементарных частиц и атомного ядра. 2001. 32 (6). 1300 - 1358.
12. Кочубей Д. И., Канажевский В. В. Рентгеновская спектроскопия поглощения - инструмент для исследования и создания новых материалов. Химия в интересах устойчивого развития. 2013. 21 (1). 21-36.
