<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Пергамент Александр Лионович</author>
     <author>Ханин Самуил Давидович</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Электронное переключение в тонких слоях оксидов переходных металлов</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>фазовые переходы</keyword>
    <keyword>электрическое переключение</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2007</year>
    <pub-dates>
     <date>2023-07-10</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Известия Российского государственного педагогического университета им. А.И. Герцена</journal>
   <abstract>Экспериментально изучен эффект переключения с S-образной ВАХ в МОМ-структурах на основе тонких аморфных пленок (50-200 нм) оксидов переходных металлов (V, Ti, Fe, Nb, Mo, W, Hf, Zr, Mn, Y, Ta), полученных анодным окислением. Каналы переключения, полностью или частично состоящие из низших оксидов, образуются в процессе предварительного электротеплового нагружения (электрической формовки). На основании анализа температурных зависимостей порогового напряжения показано, что причиной переключения в оксидных пленках на ванадии, титане, ниобии, вольфраме и железе является фазовый переход металл-изолятор в VO2, Ti2O3, NbO2, WO3-x и Fe3O4 соответственно. (Исследования выполнялись в рамках программ «Фундаментальные исследования и высшее образование» и «Развитие научного потенциала высшей школы», поддерживаемых Министерством образования и науки РФ и Американским фондом гражданских исследований и развития (CRDF), грант № RUX0-000013-PZ-06)</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://rep.herzen.spb.ru/publication/9593</url>
    </web-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
