Статья

Спектроскопия тонкопленочной металлополимерной структуры на основе комплекса [Cumsalphen]

В. Аванесян, А. Борисов, Е. Водкайло, С. Потачев
2010

Представлены результаты изучения данных рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и исследования оптических свойств полимерных образцов комплексов двухвалентной меди с лигандом H2msalphen. Приводится анализ спектров оптической плотности D(l) металлополимерных пленок с учетом влияния различных факторов: толщины образцов, их предварительной обработки при воздействии повышенной температуры и постоянного электрического поля различной напряженности. Определены спектральные зависимости коэффициента поглощения и значения оптической ширины запрещенной зоны для различных условий эксперимента.

Аванесян В., Борисов А., Водкайло Е., Потачев С. Спектроскопия тонкопленочной металлополимерной структуры на основе комплекса [Cumsalphen]. Известия Российского государственного педагогического университета им. А.И. Герцена. 2010;(122):52-63.
Цитирование

Список литературы

Похожие публикации

Источник