<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Маслов Вадим Владимирович</author>
     <author>Барышников Сергей Васильевич</author>
     <author>Стукова Елена Владимировна</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Влияние свободных носителей на температуру фазового перехода в сегнетоэлектрике-полупроводнике Pb1-хGeхTe</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>Ferroelectrics-semiconductors</keyword>
    <keyword>dielectric permittivity</keyword>
    <keyword>phase transition</keyword>
    <keyword>сегнетоэлектрики-полупроводники</keyword>
    <keyword>диэлектрическая проницаемость</keyword>
    <keyword>фазовый переход</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2012</year>
    <pub-dates>
     <date>2023-07-10</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Известия Российского государственного педагогического университета им. А.И. Герцена</journal>
   <abstract>Представлены результаты диэлектрических исследований Pbi-xGexTe (Ga) для х = 0,03; 0,05 в температурном интервале 77-180 К на частотах 10 -10 Hz. Обнаружено, что для Pb1-xGexTe(Ga) температура сегнетоэлектрического фазового перехода Тс и абсолютное значение е' существенно уменьшается с ростом концентрации свободных носителей. Предлагается теоретическое объяснение в рамках динамической теории</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://rep.herzen.spb.ru/publication/2966</url>
    </web-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
