Сенкевич С., Канарейкин А., Каптелов Е., Пронин И. Исследование состава и свойств тонких пленок PZT, полученных методом магнетронного распыления с помощью растровой электронной микроскопии. Известия Российского государственного педагогического университета им. А.И. Герцена. 2013;(157):101-106.